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关于化成箔外观缺陷检测分析系统

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专利类型:实用新型
技术成熟度:
所获奖项:

技术详情

技术附图

化成箔外观缺陷检测分析系统,包括支架和工作台,支架上设有多台上相机和下相机,在支架上设有用于支撑化成箔的滚筒,工作台上放置有计算机和显示器,所述计算机具有数据采集卡,上相机和下相机连接数据采集卡输入端,本实用新型用于解决现有人工检查化成箔外观缺陷容易眼睛容易疲劳、速度慢、效率低和精度低的问题。

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