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具有多孔结构阻挡层CuW/Al双金属材料的制备方法

专利类型:
申请号/专利号:
CN201510401419.2
申请人(专利权人):
梁淑华
行业类别:
技术成熟度:
公布时间:
证书状态:
授权
交易价格:
45000元
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摘要详情

技术摘要

权利要求书

技术附图

交易流程

委托经理人

本发明公开了具有多孔结构阻挡层CuW/Al双金属材料的制备方法,在预处理后的CuW合金表面制备镍扩散阻挡层;对铝块表面进行洁净处理使其表面平整、洁净、无氧化物,备用;将铝块与具有镍扩散阻挡层的CuW合金熔接进行熔接后,即得CuW/Al双金属材料。本发明对CuW合金表面进行预处理,使其表面形成高度为100‑200μm的W骨架,并在W骨架上添加镍扩散阻挡层,一方面增加了铝与扩散阻挡层的结合面积,有利于提高界面的结合强度;另一方面,Ni与Al、W元素仅通过互扩散形成固溶体,有效抑制了CuW/Al界面扩散溶解层中脆性金属间化合物Al2Cu的生成,提高了界面可控性。

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