政策资讯

光场成像设备轴向分辨率测定装置与方法

专利类型:
申请号/专利号:
CN201610416223.5
申请人(专利权人):
肖照林
行业类别:
技术成熟度:
公布时间:
证书状态:
授权
交易价格:
45000元
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摘要详情

技术摘要

权利要求书

技术附图

交易流程

委托经理人

本发明提供了一种光场成像设备轴向分辨率测定装置与方法,在光场成像设备的光轴方向上,以相互遮挡率低于50%的方式放置两个以上的标记靶板,确保标记靶板在光场成像设备视野范围内,并采用光场成像设备获取标记靶板经过凸透镜组件放大后的虚像。本发明适合具有较大轴向成像范围的光场成像装置使用,对光场成像设备轴向分辨率的理论可测定范围从零至无穷远,具有体积小结构紧凑的优点,有利于对不同光场成像系统的性能进行分析和比对,且便于在其他特定的光场成像应用系统中进行集成。

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