政策资讯

颗粒速度分布的差分式平面电容传感器阵列测量方法

专利类型:
申请号/专利号:
CN201711059923.4
申请人(专利权人):
高鹤明
行业类别:
技术成熟度:
公布时间:
证书状态:
授权
交易价格:
45000元
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摘要详情

技术摘要

权利要求书

技术附图

交易流程

委托经理人

本发明公开了一种颗粒速度分布的差分式平面电容传感器阵列测量方法,采用差分式平面电容传感器阵列测量装置,包括测量探头,测量探头依次连接有P路并行设置的差分电容检测电路、数据采集卡以及计算机;测量方法为:当固相颗粒沿绝缘测量管道轴向方向运动时,沿轴向相邻电容产生两组反映气固流动信息的电容信号,将信号传输给差分电容检测电路进行差分放大后输出给数据采集卡采集进而送入计算机,由计算机对数据采集卡采集输出信号进行空间滤波算法处理,获得气固两相流颗粒速度分布信息。解决了现有技术中存在的无法获得管道截面上速度场的分布以及空间频率选择性低的问题。

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