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本发明公开了一种基于二维稀疏S变换快速频域解相的三维面形测量方法，首先向待测物体投射正弦结构光栅，采集受到待测物体高度分布调制的变形光栅，然后通过二维稀疏S变换处理获得的变形条纹图，得到四维的二维稀疏S变换系数矩阵；从二维稀疏S变换系数矩阵中求取相位，得到包裹在[‑π，+π]之间的截断相位；最后对截断相位进行相位展开，得到连续分布的自然相位，根据相位与高度分布调制关系，得到待测物体的三维面形分布。本发明解决了现有技术中存在的三维面形测量精度低的问题。

基于二维稀疏S变换快速频域解相的三维面形测量方法

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