技术摘要

权利要求书

技术附图

交易流程

委托经理人

本发明基于x‑f‑k变换快速实现频域解相的三维物体面形测量方法，通过向待测物体投射正弦结构光栅，采集受到待测物体高度分布调制的变形光栅；通过x‑f‑k变换处理变形条纹，得到三维的x‑f‑k变换系数；从x‑f‑k变换系数中求取相位，得到包裹在[‑π，+π]之间的截断相位；对截断相位进行相位展开，得到连续分布的自然相位，根据相位‑高度对应关系，得到待测物体的三维面形分布。本发明解决了现有技术中存在的三维面形测量精度低的问题。

基于x-f-k变换快速实现频域解相的三维物体面形测量方法

摘要详情

技术摘要

权利要求书

技术附图

交易流程

委托经理人

同类信息

我要咨询