政策资讯

一种基于EPI的光场图像关键位置检测方法

专利类型:
申请号/专利号:
CN201910735223.5
申请人(专利权人):
金海燕
行业类别:
技术成熟度:
公布时间:
证书状态:
授权
交易价格:
45000元
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摘要详情

技术摘要

权利要求书

技术附图

交易流程

委托经理人

本发明一种基于EPI的光场图像关键位置检测方法:步骤1、对光场图像进行解码得到四维光场矩阵;步骤2、得到光场图像的中心行、中心列子孔径图像;步骤3、提取3D水平EPI立方体和3D垂直EPI立方体;步骤4、确定多个尺度上都被检测到的特征点;步骤5、处理得到关键位置线;步骤6、确定得到光场图像上稳定的特征点即光场关键位置;步骤7、删除重复的光场关键位置,最终得到光场图像上所有关键位置。本发明一种基于EPI的光场图像关键位置检测方法,克服了现有的光场图像特征检测方法检测出的特征点不稳定问题,能够准确检测到光场图像上稳定的关键位置,具有鲁棒性且时间复杂度低,适用于不同场景。

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