政策资讯

基于光场EPI傅里叶变换的折射特征检测方法

专利类型:
申请号/专利号:
CN202010301723.0
申请人(专利权人):
金海燕
行业类别:
技术成熟度:
公布时间:
证书状态:
授权
交易价格:
45000元
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摘要详情

技术摘要

权利要求书

技术附图

交易流程

委托经理人

本发明基于光场EPI傅里叶变换的折射特征检测方法,具体按照以下步骤实施:步骤1、对光场原始图像进行解码得到四维参数化矩阵L[s,t,u,v];步骤2、利用四维参数化矩阵L[s,t,u,v]提取得到多个子孔径图像,并将所有的子孔径图像处理得到多个光场水平EPI图像;步骤3、将每个光场水平EPI图像划分为多等份图像,对每等份图像依次进行傅里叶变换、频谱中心化操作得到每等份图像对应的频域图像;步骤4、对每个光场水平EPI图像对应的所有等份频域图像依次进行检测分析确定频域图像上是否存在折射特征,进而确定光场原始图像上的折射区域。本发明基于光场EPI傅里叶变换的折射特征检测方法,能够精确检测出折射特征。

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