政策资讯

相干光通信波前校正中去除与补偿子孔径光斑坏点的方法

专利类型:
申请号/专利号:
CN202110420356.0
申请人(专利权人):
柯熙政
行业类别:
技术成熟度:
公布时间:
证书状态:
授权
交易价格:
45000元
我要咨询

摘要详情

技术摘要

权利要求书

技术附图

交易流程

委托经理人

本发明公开了一种相干光通信波前校正中去除与补偿子孔径光斑坏点的方法具体包括如下步骤:步骤1,基于传感器子孔径阵列对光斑的辐照功率和响应电压特性,定义一个响应率参数R(i,j),作为参考变量;步骤2,根据步骤1中定义的响应率参数R(i,j),设置一个阈值T,判断并检测出焦平面的坏点,并将坏点处的响应率的值置零去除;步骤3,采用坏点周围的有效点信息对步骤2检测的坏点位置的信息进行插值预测和代替补偿;步骤4,重复执行步骤2~3,进行动态波前坏点去除与补偿,直到步骤2中设置的阈值范围内检测不到坏点,输出此时的光斑阵列图。采用本发明能够实现对坏点的有效去除与补偿,以减小AO系统的校正误差。

我要咨询

商标号:
联系人:
联系电话:
商标名称:
报价:
需求描述:
提交
服务
客服
电话:18504815395
邮箱:965848622@qq.com
地址:呼和浩特市赛罕区昭乌达路70号内蒙古科技大厦906
微信
招聘
返回顶部