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一种结合IRI模型的甚低频电波传播时变特性预测方法

专利类型:
申请号/专利号:
CN201910007422.4
申请人(专利权人):
蒲玉蓉
行业类别:
技术成熟度:
公布时间:
证书状态:
授权
交易价格:
45000元
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摘要详情

技术摘要

权利要求书

技术附图

交易流程

委托经理人

本发明公开了一种结合IRI模型的甚低频电波传播时变特性预测方法,首先推导计算电场分量Er、求解电离层表面阻抗Δi、获取随高度的变化的电离层电子密度Ne和电子温度Te;获取随高度的变化的氧原子密度NO、氧气分子密度氮气分子密度结合电离层碰撞频率νe的计算公式,得到随高度变化的碰撞频率νe;然后将所得碰撞频率和电子密度数据代入电离层表面阻抗计算方法中,进一步更新修正电离层表面阻抗Δi;将更新得到的电离层表面阻抗Δi代入电场强度计算公式,进一步求解出不同时间对应的场强Er,并通过仿真画出场强随不同时间的变化图,将结果与实测数据对比,进一步分析预测场强随时间的变化特性。本发明解决了现有技术中存在的甚低频电磁波测量误差和修正误差大的问题。

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