一种二维随机粗糙面散射统计矩的计算方法

专利类型：

申请号/专利号:

CN201910645357.8

申请人（专利权人）:

王明军

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45000元

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本发明公开了一种二维随机粗糙面散射统计矩的计算方法，具体为：利用Beckmann理论和高斯矩定理，经过严格的理论推导给出了散射场的二阶矩、相干与非相干散射强度及散射场四阶矩的计算公式，可以由散射场高阶矩退化到低阶矩，验证散射场四阶矩函数的正确性，且能够通过随机粗糙表面散射四阶矩函数来分析激光强度探测的质量，并广泛的用于国防和民用领域粗糙面散斑探测问题的研究。

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