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SiGe/Ge/SiGe双异质结激光器及其制备方法

专利类型:
申请号/专利号:
CN201811082941.9
申请人(专利权人):
舒斌
行业类别:
技术成熟度:
公布时间:
证书状态:
授权
交易价格:
50000元
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摘要详情

技术摘要

权利要求书

技术附图

交易流程

委托经理人

本发明公开了一种SiGe/Ge/SiGe双异质结激光器及其制备方法。方法包括:在Si衬底的表面形成p型Si1‑xGex层;在p型Si1‑xGex层的表面形成SiN层;将SiN层的中间区域刻蚀掉,使两端的SiN层和底部的p型Si1‑xGex层形成一凹槽;在凹槽内形成n型Ge层,且n型Ge层的厚度与SiN层的厚度相同;在SiN层表面和n型Ge层的表面形成n型Si1‑xGex层;在n型Si1‑xGex层的表面形成Si帽层;在Si帽层上形成电极。本发明的SiGe/Ge/SiGe双异质结激光器又具有较高的光电转换效率和较低的阈值电流密度,光稳定性好;其制备方法既能够兼容CMOS工艺,加工简单、方便,为实现片上光源提供一个具体的结构和实施方案。

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