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HEMT器件及其制备方法

专利类型:
申请号/专利号:
CN201810461440.5
申请人(专利权人):
马晓华
行业类别:
技术成熟度:
公布时间:
证书状态:
授权
交易价格:
50000元
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摘要详情

技术摘要

权利要求书

技术附图

交易流程

委托经理人

本发明涉及一种HEMT器件及其制备方法,包括:S101、选取外延基片;所述外延基片由下往上依次包括衬底、成核层、GaN缓冲层、AlN插入层、AlGaN势垒层和GaN帽层;S102、在所述GaN缓冲层上制作源电极和漏电极;S103、在所述源电极、所述漏电极和所述GaN帽层上依次生长SiN层和有机物层形成钝化层;S104、在所述有机物层和所述GaN帽层上生长栅介质层;S105、制备栅电极和金属互联层以完成所述HEMT器件的制备。本发明提供的HEMT器件及其制备方法在生长SiN层再生长一层BCB有机物层,使器件具有低的吸湿性和优异的应力行为和良好的金属黏附性,可以提高器件可靠性。

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