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肖特基接触注入增强型SiC PNM-IGBT器件及其制备方法

专利类型:
申请号/专利号:
CN201710466243.8
申请人(专利权人):
张玉明
行业类别:
技术成熟度:
公布时间:
证书状态:
授权
交易价格:
50000元
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摘要详情

技术摘要

权利要求书

技术附图

交易流程

委托经理人

本发明涉及一种新型肖特基接触注入增强型SiC PNM‑IGBT器件其制备方法。该制备方法包括:在SiC衬底连续生长过渡层、第一漂移层、缓冲层、集电层;刻蚀第一漂移层形成第一沟槽,淀积第一氧化层;生长第二漂移层;在第二漂移层上生长P型阱区,在P型阱区形成P+掺杂区、P接触区和N+发射区;刻蚀制备第二沟槽,形成埋氧化层;在第二沟槽生长第二氧化层,淀积多晶硅;淀积金属层分别形成发射极欧姆接触电极、发射极肖特基接触电极和集电极接触电极。本发明在槽栅两侧引入埋氧化层,和在发射极引入肖特基接触电极增强了电导调制效应,降低了导通电阻,并不会导致关断时间明显增大,且在工艺上与现有工艺兼容。

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