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一种基于CH3NH3PbI3和Al2O3材料的MOS电容光敏器件及其制备方法

专利类型:
申请号/专利号:
CN201910470603.0
申请人(专利权人):
贾仁需
行业类别:
技术成熟度:
公布时间:
证书状态:
授权
交易价格:
50000元
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摘要详情

技术摘要

权利要求书

技术附图

交易流程

委托经理人

本发明涉及一种基于CH3NH3PbI3和Al2O3材料的MOS电容光敏器件及其制备方法。其中,该制备方法包括步骤:在衬底的第一面生长Al2O3材料,形成栅介质层;在所述栅介质层上生长CH3NH3PbI3材料,形成光吸收层;在所述光吸收层上生长第一电极;在所述衬底的第二面生长第二电极。本发明实施例MOS电容光敏器件采用Al2O3材料作为栅介质层,Al2O3材料为高K栅介质材料,高K栅介质材料使器件在暗态条件下几乎不导通,从而暗态下第一电极与第二电极之间的电流极小,大幅度减少了栅泄漏电流,降低了器件的功耗,提高了器件的光敏特性,有利于减小MOS器件的特征尺寸,实现MOS器件的小型化设计。

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