政策资讯

数值孪生电磁测量系统

专利类型:
申请号/专利号:
CN201910072429.4
申请人(专利权人):
张玉
行业类别:
技术成熟度:
公布时间:
证书状态:
授权
交易价格:
50000元
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摘要详情

技术摘要

权利要求书

技术附图

交易流程

委托经理人

本发明涉及一种数值孪生电磁测量系统,包括:数值微波暗室测量单元,用于利用高性能CAE模拟数值微波暗室,并在所述数值微波暗室中对数值模型进行数值测量;数值电磁兼容测量单元,用于利用所述高性能CAE模拟数值电磁兼容测量室,并在所述数值电磁兼容测量室中对数值模型进行数值测量;数值混响室测量单元,用于利用所述高性能CAE模拟数值混响室,并在所述数值混响室中对数值模型进行数值测量。本发明所提供的数值孪生电磁测量系统是在传统微波暗室的基础上,将高性能电磁计算与微波暗室中的测量方法有机融合,作为一种崭新的认知电磁场的方式,数值上实现系统级平台测量,以增强暗室测量能力和准确度。

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