本发明属于集成电路检测技术领域，具体涉及基于时间数字转换器的集成电路工艺可信检测方法及电路，包括：获取载体电路中的若干关键路径；根据所述若干关键路径在所述载体电路上添加时间数字转换器电路得到添加检测电路的载体电路；对所述添加检测电路的载体电路进行动态仿真得到动态仿真结果；根据所述添加检测电路的载体电路得到集成电路芯片，并对所述集成电路芯片中所述载体电路的所述关键路径进行路径延时检测得到芯片测量结果；将所述动态仿真结果与所述集成电路芯片测量结果进行对比得到判断结果。具有面积小、隐蔽性好的有益效果。
