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具有插指型金刚石散热层的GaN HEMT及制备方法

专利类型:
申请号/专利号:
CN202011384358.0
申请人(专利权人):
马晓华
行业类别:
技术成熟度:
公布时间:
证书状态:
授权
交易价格:
50000元
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摘要详情

技术摘要

权利要求书

技术附图

交易流程

委托经理人

本发明公开了一种具有插指型金刚石散热层的GaN HEMT及制备方法;该GaN HEMT包括自下而上的衬底、中间层和介质层;中间层包括自上而下的势垒层以及缓冲层;源、漏、栅电极分别穿过介质层与势垒层相接触;中间层上沿栅宽方向刻蚀有插指型凹槽,凹槽正上方的介质层形成第一插指结构;第一插指结构在水平方向上位于栅、漏电极之间并与栅电极相邻;栅电极和漏电极之间的介质层上表面生长有金刚石散热层;金刚石散热层的下表面形成有第二插指结构;第二插指结构与第一插指结构无缝对接;栅电极的上端向漏电极的方向延伸,以覆盖金刚石散热层的部分上表面。本发明可以提高GaN HEMT在微波大功率场景下的散热能力。

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