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基于22nm工艺的SONOS结构抗辐照FDSOI场效应管及其制备方法

专利类型:
申请号/专利号:
CN202110173091.9
申请人(专利权人):
刘红侠
行业类别:
技术成熟度:
公布时间:
证书状态:
授权
交易价格:
50000元
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摘要详情

技术摘要

权利要求书

技术附图

交易流程

委托经理人

本发明涉及一种基于22nm工艺的SONOS结构抗辐照FDSOI场效应管及其制备方法,方法包括:制作SONOS结构、制作背栅、制作浅槽隔离、制作背板掺杂、制作高K栅氧和多晶硅栅、制作第一层Si3N4侧墙、制作轻掺杂源漏、制作源漏凸起、制作源漏区、表面清洗,器件完成。本发明在普通BOX层中加入Si3N4层,使BOX层分为上下两层,引入的势垒增加了电子和空穴的复合,减少了辐照作用下BOX层中陷阱俘获正电荷的数量,同时Si3N4层中产生陷阱负电荷,抵消BOX层中一部分陷阱正电荷的作用,使得BOX层界面附近的沟道深处不易反型,提高了器件抗辐照性能。

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