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ScAlN/GaN双势垒共振隧穿二极管及其制作方法

专利类型:
申请号/专利号:
CN202110335747.2
申请人(专利权人):
薛军帅
行业类别:
技术成熟度:
公布时间:
证书状态:
授权
交易价格:
50000元
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摘要详情

技术摘要

权利要求书

技术附图

交易流程

委托经理人

本发明公开了一种ScAlN/GaN双势垒共振隧穿二极管及其制作方法,主要解决现有氮化镓共振隧穿二极管峰值电流低、峰谷电流比小和微分负阻效应不对称的问题。其自下而上包括衬底、GaN外延层、n+GaN发射极欧姆接触层、GaN隔离层、第一势垒层、GaN量子阱层、第二势垒层、隔离层、集电极欧姆接触层和集电极电极;这两个势垒层均采用Sc组分在15%‑20%之间、厚度为1‑3nm且Sc组分、厚度相同的ScAlN;隔离层采用厚度为2‑4nm的InN;集电极欧姆接触层采用n+InN。本发明器件峰值电流高、峰谷电流比大、能实现正反向对称微分负阻效应,且工作频率和输出功率高,可用于高频太赫兹辐射源和高速数字电路。

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