政策资讯

一种大斜视中高轨SAR二维波束扫描方法

专利类型:
申请号/专利号:
CN202010621548.3
申请人(专利权人):
孙光才
行业类别:
技术成熟度:
公布时间:
证书状态:
授权
交易价格:
50000元
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摘要详情

技术摘要

权利要求书

技术附图

交易流程

委托经理人

本发明公开了一种大斜视中高轨SAR二维波束扫描方法,首先通过雷达成像时间、GPS数据和场景位置得到成像几何参数,结合成像几何和目标分辨率设计得到雷达的最优合成孔径时间和带宽,由雷达的最优合成孔径时间和带宽得到方位波束扫描速率,进而通过场景中心目标的线性距离走动得到离线角变化率,根据方位波束扫描速率和离线角变化率得到俯仰向波束扫描速率,使用成像几何参数中的卫星运动参数和二维波束扫描速率计算得到地面波束足迹速度,根据地面波束足迹速度确定瞬时波束足迹位置,进而确定雷达成像时间内的瞬时波束指向。SAR二维波束扫描方法不仅可以得到所需的方位分辨率,还可以在斜视模式下确定较大的测绘带宽度,或缩短回波长度,减小数据量。

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