政策资讯

含InGaN子阱结构的YAlN/GaN双势垒共振隧穿二极管及其制作方法

专利类型:
申请号/专利号:
CN202110335756.1
申请人(专利权人):
薛军帅
行业类别:
技术成熟度:
公布时间:
证书状态:
授权
交易价格:
50000元
我要咨询

摘要详情

技术摘要

权利要求书

技术附图

交易流程

委托经理人

本发明公开了一种含InGaN子阱结构的YAlN/GaN双势垒共振隧穿二极管及其制作方法,主要解决现有GaN共振隧穿二极管峰值电流低、峰谷电流比小和性能一致性差的问题。其自下而上包括衬底、GaN外延层、n+GaN发射极欧姆接触层、GaN隔离层、第一势垒层、第二势垒层、InN隔离层、n+InN集电极欧姆接触层、集电极电极,其中两势垒层之间依次为第一GaN主量子阱层、In组分为3%‑5%的InGaN子量子阱层、第二GaN主量子阱层;两势垒层的Y组分均为6%‑15%的YAlN。本发明共振隧穿二极管峰值电流高、峰谷电流比大、峰值隧穿电压低、具有对称特性微分负阻效应,可用于高频太赫兹辐射源和高速数字电路。

我要咨询

商标号:
联系人:
联系电话:
商标名称:
报价:
需求描述:
提交
服务
客服
电话:18504815395
邮箱:965848622@qq.com
地址:呼和浩特市赛罕区昭乌达路70号内蒙古科技大厦906
微信
招聘
返回顶部